ANÁLISIS DE SUPERFICIES USANDO MICROSCOPÍA DE EFECTO TÚNEL :

Thesis
ANÁLISIS DE SUPERFICIES USANDO MICROSCOPÍA DE EFECTO TÚNEL :

dc.contributor.advisor	Häberle Tapia, Patricio
dc.contributor.department	Universidad Técnica Federico Santa María. UTFSM. Casa Central
dc.creator	Figueroa M., Emilio Andrés
dc.date.accessioned	2024-10-02T12:05:48Z
dc.date.available	2024-10-02T12:05:48Z
dc.date.issued	2005
dc.description	Digitalizada desde la versión papel
dc.description.abstract	Con el fin de estudiar las capacidades de un Microscopio de efecto túnel (STM), se realizaron, en condiciones de ultra alto vacío (UHV)(10-10 [Torr]), mediciones de la rugosidad y de la corriente de túnel versus el voltaje con resolución atómica. En parti
dc.description.degree	MAGÍSTER EN CIENCIAS MECIÓN EN FÍSICA	es_CL
dc.format.medium	Papel/Digitalizada
dc.identifier.barcode	3560900109849
dc.identifier.uri	https://repositorio.usm.cl/handle/123456789/19171
dc.language.iso	es
dc.publisher	Universidad Técnica Federico Santa María
dc.rights.accessRights	B - Solamente disponible para consulta en sala (opción por defecto)
dc.source.uri	http://www.usm.cl
dc.subject	ESPECTROSCOPIA ATOMICA
dc.title	ANÁLISIS DE SUPERFICIES USANDO MICROSCOPÍA DE EFECTO TÚNEL :
dc.type	Tesis de Postgrado
dspace.entity.type	Tesis
usm.campus.sede	BC

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