EL REPOSITORIO SE ENCUENTRA EN MARCHA BLANCA

 

Thesis
ANÁLISIS DE SUPERFICIES USANDO MICROSCOPÍA DE EFECTO TÚNEL :

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Date

2005

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Abstract

Con el fin de estudiar las capacidades de un Microscopio de efecto túnel (STM), se realizaron, en condiciones de ultra alto vacío (UHV)(10-10 [Torr]), mediciones de la rugosidad y de la corriente de túnel versus el voltaje con resolución atómica. En parti

Description

Digitalizada desde la versión papel

Keywords

ESPECTROSCOPIA ATOMICA

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