Thesis ANÁLISIS DE SUPERFICIES USANDO MICROSCOPÍA DE EFECTO TÚNEL :
Loading...
Date
2005
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Program
Campus
Abstract
Con el fin de estudiar las capacidades de un Microscopio de efecto túnel (STM), se realizaron, en condiciones de ultra alto vacío (UHV)(10-10 [Torr]), mediciones de la rugosidad y de la corriente de túnel versus el voltaje con resolución atómica. En parti
Description
Digitalizada desde la versión papel
Keywords
ESPECTROSCOPIA ATOMICA