FORMACIÓN DE NANOESTRUCTURAS EN SUPERFICIES SEMICONDUCTORAS Y METÁLICAS: ESTUDIO CON STM DE NANOISLAS SIC/SI (111) Y FILAMENTOS AGAL/AL (100)

Thesis
FORMACIÓN DE NANOESTRUCTURAS EN SUPERFICIES SEMICONDUCTORAS Y METÁLICAS: ESTUDIO CON STM DE NANOISLAS SIC/SI (111) Y FILAMENTOS AGAL/AL (100)

dc.contributor.advisor	HÄBERLE TAPIA, PATRICIO
dc.contributor.author	FLORES CARRASCO, MARCOS IVÁN
dc.contributor.department	Universidad Técnica Federico Santa María. UTFSM. Casa Central
dc.date.accessioned	2024-10-02T12:29:30Z
dc.date.available	2024-10-02T12:29:30Z
dc.date.issued	2006
dc.description	Digitalizada desde la versión papel
dc.description.degree	DOCTOR EN CIENCIAS MENCIÓN FÍSICA
dc.description.degree	DOCTOR EN CIENCIAS MENCIÓN FÍSICA	es_CL
dc.format.medium	Papel/Digitalizada
dc.identifier.barcode	3560900124100
dc.identifier.uri	https://repositorio.usm.cl/handle/123456789/19827
dc.language.iso	es
dc.publisher	Universidad Técnica Federico Santa María
dc.rights.accessRights	B - Solamente disponible para consulta en sala (opción por defecto)
dc.source.uri	http://www.usm.cl
dc.subject	ESPECTROMETRO
dc.title	FORMACIÓN DE NANOESTRUCTURAS EN SUPERFICIES SEMICONDUCTORAS Y METÁLICAS: ESTUDIO CON STM DE NANOISLAS SIC/SI (111) Y FILAMENTOS AGAL/AL (100)
dc.type	Tesis de Postgrado
dspace.entity.type	Tesis
usm.campus.sede	BC

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