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FORMACIÓN DE NANOESTRUCTURAS EN SUPERFICIES SEMICONDUCTORAS Y METÁLICAS: ESTUDIO CON STM DE NANOISLAS SIC/SI (111) Y FILAMENTOS AGAL/AL (100)

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dc.contributor.advisorHÄBERLE TAPIA, PATRICIO
dc.contributor.authorFLORES CARRASCO, MARCOS IVÁN
dc.contributor.departmentUniversidad Técnica Federico Santa María. UTFSM. Casa Central
dc.date.accessioned2019-02-20T18:13:19Z
dc.date.available2019-02-20T18:13:19Z
dc.date.issued2006
dc.descriptionDigitalizada desde la versión papel
dc.description.degreeDOCTOR EN CIENCIAS MENCIÓN FÍSICA
dc.description.degreeDOCTOR EN CIENCIAS MENCIÓN FÍSICAes_CL
dc.format.extent200 h.
dc.format.mediumPapel/Digitalizada
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.identifier.barcode3560900124100
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11673/43972
dc.language.isoes
dc.publisherUniversidad Técnica Federico Santa María
dc.rights.accessRightsB - Solamente disponible para consulta en sala (opción por defecto)
dc.source.urihttp://www.usm.cl
dc.subjectESPECTROMETRO
dc.titleFORMACIÓN DE NANOESTRUCTURAS EN SUPERFICIES SEMICONDUCTORAS Y METÁLICAS: ESTUDIO CON STM DE NANOISLAS SIC/SI (111) Y FILAMENTOS AGAL/AL (100)
dc.typeTesis de Postgrado
dspace.entity.typePublication
usm.campus.sedeBC
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Doctorado en Ciencias Físicas