Häberle Tapia, PatricioFigueroa M., Emilio Andrés2024-10-022024-10-022005https://repositorio.usm.cl/handle/123456789/19171Digitalizada desde la versión papelCon el fin de estudiar las capacidades de un Microscopio de efecto túnel (STM), se realizaron, en condiciones de ultra alto vacío (UHV)(10-10 [Torr]), mediciones de la rugosidad y de la corriente de túnel versus el voltaje con resolución atómica. En partiPapel/DigitalizadaesESPECTROSCOPIA ATOMICATesis de PostgradoB - Solamente disponible para consulta en sala (opción por defecto)3560900109849