FORMACIÓN DE NANOESTRUCTURAS EN SUPERFICIES SEMICONDUCTORAS Y METÁLICAS: ESTUDIO CON STM DE NANOISLAS SIC/SI (111) Y FILAMENTOS AGAL/AL (100)

HÄBERLE TAPIA, PATRICIOFLORES CARRASCO, MARCOS IVÁN2024-10-022024-10-022006https://repositorio.usm.cl/handle/123456789/19827Digitalizada desde la versión papelPapel/DigitalizadaesESPECTROMETROFORMACIÓN DE NANOESTRUCTURAS EN SUPERFICIES SEMICONDUCTORAS Y METÁLICAS: ESTUDIO CON STM DE NANOISLAS SIC/SI (111) Y FILAMENTOS AGAL/AL (100)Tesis de PostgradoB - Solamente disponible para consulta en sala (opción por defecto)3560900124100